PH-3515F三丰光学比较器w/ M2几何显示,边缘检测和比较器支架
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PH-3515F三丰光学比较器w/ M2几何显示,边缘检测和比较器支架

  • 15995 .15美元
  • 节省841.85美元


三丰PH-3515F光学比较器包

三丰的PH-3515F是一款重型台式光学比较器,采用水平光学系统。这种光学比较器包括一个8“x 4”浮动型工作台,它集成了快速、准确的线性刻度。工作台精度高,可处理100磅的工作负载。

PH-3515F提供了一个14英寸直径的屏幕,包括便于校准的十字准线和在白天明亮的屏幕上竖立的图像。

PH-3515F也有广泛的配件可供选择,使其适用于各种各样的应用。

三丰M2几何测量显示器

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  • 基于图形的“部件视图”结构
    • 从图形部分视图中生成流行的构造类型,如距离和切线。
  • 几何公差
    • 测量功能,设置标称,应用公差和查看偏差结果,只需快速点击几下。
  • 报告
    • 报表内容和格式的灵活性允许完全自定义数据格式、页眉信息和页眉-页脚图形。
  • 易于使用的触摸屏

M2几何显示的边缘检测

专为使用Mitutoyo M2几何显示,包括在这个包的边缘检测有助于使测量更准确,更可重复,消除人为因素。Optoeye是一个小型的光纤摄像机,它可以通过监控投影仪上的图像来识别轮廓投影仪上零件的运动。当图像由暗(阴影)变为亮时,光眼就能识别出发生变化的确切位置。这不仅可以提高测量速度,而且可以使测量结果在不同的操作人员之间更加精确和可重复。

包包括以下…
    • 主要单位
    • 10倍的镜头
    • 几何测量显示器
    • 三丰光学比较仪的缩写为PH-3515F
    • M2几何显示的边缘检测
    • 免费运费
    • 免费现场安装和初始校准

    免费运费在美国大陆的任何地方

    免费的现场安装/初始校准